A63.7081 Schottkyho emisní pistole, skenovací elektronový mikroskop Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Stručný popis:

15x ~ 800000x Schottkyho polní emisní pistole skenovací elektronový mikroskop
Zrychlení paprsků E se stabilním zdrojem proudu paprsku Vynikající obraz při nízkém napětí
Vzorek bez vodivosti lze přímo pozorovat, není třeba ho rozprašovat při nízkém napětí
Snadné a přívětivé ovládací rozhraní, vše ovládáno myší v systému Windows
Velká vzorkovací místnost s pětiosým eucentrickým motorizovaným stolem velké velikosti, max. Průměr vzorku 320 mm
Minimální množství pro objednání:1

Detail produktu

Štítky produktu

A63.7081_01.jpg

Popis výrobku

A63.7081 Polní emisní pistole Schottky Skenovací elektronový mikroskop PRO FEG SEM
Řešení		1 nm @ 30 KV (SE); 3 nm @ 1 KV (SE); 2,5 nm @ 30 KV (BSE)
Zvětšení		15x ~ 800000x
Elektronová zbraň		Schottkyho emisní elektronová zbraň
Proud elektronového paprsku		10pA ~ 0,3μA
Zrychlení plavby		0 ~ 30 kV
Vakuový systém		2 iontová čerpadla, turbo molekulární čerpadlo, mechanické čerpadlo
Detektor		SE: Vysoko vakuový sekundární elektronový detektor (s ochranou detektoru)
		BSE: Semiconductor Four Segmentation Back Scattering Detector
		CCD
Fáze vzorku		Eucentrická motorizovaná fáze s pěti osami
Cestovní rozsah	X	0 ~ 150 mm
	Y	0 ~ 150 mm
	Z	0 ~ 60 mm
	R	360 °
	T	-5 ° ~ 75 °
Maximální průměr vzorku		320 mm
Úpravy		EBL; STM; AFM; Stupeň ohřevu; Stupeň kryo; Stupeň tahové síly; Mikro-nano manipulátor; SEM + povlékací stroj; SEM + Laser atd.
Příslušenství		Rentgenový detektor (EDS), EBSD, CL, WDS, nátěrový stroj atd.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Výhoda a případy

Skenovací elektronová mikroskopie (sem) je vhodná pro pozorování povrchové topografie kovů, keramiky, polovodičů, minerálů, biologie, polymerů, kompozitů a jednorozměrných, dvojrozměrných a trojrozměrných materiálů v nanoměřítku (sekundární elektronový obraz, Může být použit k analýze bodových, liniových a povrchových složek mikroregionu. Je široce používán v ropě, geologii, minerálním poli, elektronice, polovodičovém poli, medicíně, biologickém poli, chemickém průmyslu, poli polymerních materiálů, trestní vyšetřování veřejné bezpečnosti, zemědělství, lesnictví a dalších oborů.